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  • 2023

    7-30

    X射线荧光光谱仪是一种分析物质组成和结构的实验仪器。它利用X射线激发样品中原子的内层电子跃迁,导致外层电子填补内层空位并发出荧光辐射的现象,通过测量这些荧光辐射的能量和强度来确定样品中不同元素的存在及其相对含量。它可以对物质进行非破坏性的分析。它通过对物质中X射线的激发产生的荧光信号进行测量,来确认物质中的成分和含量。X射线荧光光谱仪的主要部件包括X射线管、样品台、能量分析器等。X射线管是产生X射线的主要部件,它由阳极和阴极组成,当高压电施加到阳极和阴极之间时,阴极会发射电子...

  • 2023

    7-26

    在当今科技迅猛发展的时代,精确度和可靠性成为了各行业竞争的焦点。在制造业中,德国蔡司三坐标测量机作为一种关键的测量工具,扮演着重要的角色。本文将介绍基本原理、应用领域以及其在创新时代下的崭新发展。德国蔡司三坐标测量机是一种通过测量物体在三个坐标轴上的坐标值,来确定其形状、尺寸和位置的高精度测量设备。它通常由测量传感器、运动控制系统和计算机软件组成。利用三坐标测量机,可以对物体进行非接触式的三维测量,并获得相应的测量数据。这些数据可以用于质量控制、产品开发、工艺改进等领域。三坐...

  • 2023

    7-17

    场发射扫描电子显微镜是一种*而强大的显微镜技术,能够以惊人的细节和清晰度呈现微观世界的奇迹。本文将介绍原理、应用和未来发展前景。在场发射扫描电子显微镜中,电子束由阴极产生,并经过一系列透镜系统对其进行聚焦。相比传统的扫描电子显微镜(SEM),具备更高的分辨率和灵敏度。这是因为采用了场发射效应,即在一个极小的区域内实现电子的发射。这使得电子束更为集中、稳定,并且具有更高的速度和能量。还利用扫描线圈和检测器来生成高分辨率的图像,可以呈现样品表面的微观形貌、组成和结构等信息。在各个...

  • 2023

    7-10

    美国TA差式扫描量热仪是一种*实验仪器,用于测量化学反应释放或吸收的能量变化。它通过差示热量计原理,能够提供高精度和高灵敏度的数据,为研究者们深入了解化学过程中的能量转化提供了重要工具。美国TA差式扫描量热仪的工作原理基于两个样品盒:参考盒和测试盒。这两个盒子中分别装有参比物和待测物质。参比物是已知热容和热特性的样品,而待测物质则是需要研究的化学反应物。当两个盒子同时受到相同的温度程序控制时,会测量两个盒子之间的温度差异,并据此计算出反应过程中释放或吸收的能量。具有多项优势。...

  • 2023

    7-7

    绝缘电阻测试系统是一种关键设备,用于评估电气设备的绝缘性能。其主要功能是检测设备与大地之间的绝缘电阻,以确保电气系统的安全运行。本文将介绍工作原理、应用领域以及其在保护人员和设备安全方面的重要性。首先,让我们了解一下绝缘电阻测试系统的工作原理。该系统通过向电气设备施加特定的测试电压,然后测量电流来计算绝缘电阻值。如果绝缘电阻低于预设标准,系统会发出警报,表明设备存在绝缘故障风险。这种测试系统通常采用高精度的测量仪器和严格的标准,以确保测试结果的准确性和可靠性。绝缘电阻测试系统...

  • 2023

    6-29

    辉光放电发射光谱仪是一种对金属和非金属固体材料进行定性和定量分析的光谱方法,用来检测镀层厚度及化学成分金属材料基体化学成分。测量原理:将样品置于辉光放电源中,作为阴极进行切换。辉光放电源在低压下充满氩气。在空心阳极和阴极之间施加直流电压(样品)。由于直流电压的能量输入,氩原子被电离,形成等离子体。氩离子向负样品表面加速并击落一些样品原子(“溅射”)。被溅射出的样品原子扩散到等离子体中,在那里它们与高能电子碰撞。在这些碰撞过程中,能量被传递给样品原子,促使它们进入激发态,并很快...

  • 2023

    6-27

    美国TA热重分析仪是一种能够测定样品随时间或温度变化而改变质量的仪器。它可以通过监测样品质量的变化来探索材料的热稳定性、氧化性、分解机理等信息。作为一种常见的实验室测试设备,TA在材料科学、化学、生物医药等领域都有广泛应用。美国TA热重分析仪是热重分析仪领域的一款品牌,其产品具有高精度、高灵敏度、高自动化等特点,广受用户认可。下面将从原理、技术特点、应用等方面介绍。一、原理TA热重分析仪主要基于样品质量对温度和时间的响应曲线进行测试。当样品被加热时,样品中的化学键被打断,产生...

  • 2023

    6-19

    扫描电子显微镜SEM是一种常见的显微镜,它利用电子束来成像样品的表面结构,比传统光学显微镜具有更高的分辨率和放大倍数。本文将介绍原理、应用以及未来发展趋势。探秘扫描电子显微镜SEM的原理是基于电子束与物质的相互作用而形成图像。电子束从电子枪中发射出来,经过加速器后被聚焦在一个非常小的点上,然后照射到样品表面上。样品会反射、散射或透射电子束,这些信号被探测器捕捉并转换为电信号,最终形成图像。SEM的分辨率通常可以达到纳米级别,因为电子束的波长比可见光短得多。同时,可以提供三维图...

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