咨询热线

13590276810

当前位置:首页  >  产品展示  >  X射线荧光光谱仪  >  波长色散X射线荧光光谱仪  >  ZSX Primus III+日本理学波长色散X射线荧光光谱仪

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪

简要描述:日本理学波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus III+特点:
实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析
高精度定位样品台满足合金分析高精度要求
特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差
样品室可简单移出方便清洁
操作界面简洁、自动化程度高

  • 产品型号:ZSX Primus III+
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-04-20
  • 访  问  量:301

详细介绍

品牌其他品牌行业专用类型其它
价格区间面议仪器种类台式/落地式
应用领域环保,能源

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus III+产品描述:

X射线管位于分析样品上方,zui大程du减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。
可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率,使粉末和金属样品的样品处理量达到理想状态。


日本理学波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus III+特点:

实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析

高精度定位样品台满足合金分析高精度要求

特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差

样品室可简单移出方便清洁

操作界面简洁、自动化程度高


Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素。

高于光学元件的管道,可靠性更高

ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。

高精度样品定位

样品的高精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定。这对于要求高精度的应用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光学配置进行高精度分析,旨在最大限度地减少样品中非平坦表面引起的误差,如熔融珠和压制颗粒

使用EZ-scan软件的SQX基本参数

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下分析未知样品。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件,它可以提供最准确,最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应,包括线重叠。SQX还可以校正光电子(光和超轻元素),不同气氛,杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完mei的扫描分析程序可以提高准确度。


特征:

元素从O到U的分析

管道上方的光学器件使污染问题最小化

占地面积小,使用的实验室空间有限

高精度样品定位

特殊光学元件可减少曲面样品表面造成的误差

统计过程控制软件工具(SPC)

吞吐量可以优化疏散和真空泄漏率

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7