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  • 日本Otsuka显微分光膜厚仪
    日本Otsuka显微分光膜厚仪

    日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数) 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外) 区域传感器的安全机制 易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义

    更新时间:2022-03-20型号:OPTM SERIES访问量:195
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    日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES

    日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数) 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外) 区域传感器的安全机制 易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义

    更新时间:2022-03-19型号:访问量:143
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